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Erschienen in: Herz 1/2021

27.02.2020 | Original articles

The risk factors of new-onset atrial fibrillation after pacemaker implantation

verfasst von: Zhaodi Wu, Xueying Chen, Junbo Ge, Yangang Su

Erschienen in: Herz | Sonderheft 1/2021

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Abstract

Objective

The aim of this study was to determine the incidence of newly detected atrial fibrillation (AF) in patients following dual-chamber pacemaker (PPM) implantation and to define the clinical predictors of new-onset AF in a Chinese cohort.

Methods

A total of 219 patients without documented AF that underwent dual-chamber PPM implantation for sick sinus syndrome (SSS) (n = 88) or atrioventricular block (AVB) (n = 131) were prospectively studied. All patients were invited to follow-up at 1 month, 3 months and 6 months after the pacemaker implantation procedure, and once every 6 months thereafter. An atrial high-rate episode (AHRE) ≥5 min and an atrial rate ≥180 bpm was defined as AF.

Results

During follow-up of 884 ± 180 days, AF was detected in 56 (26%) patients. Using Kaplan-Meier survival curves with Log-rank test, SSS patients with a cumulative percentage of ventricular pacing (Cum % VP) ≥60% had a significantly higher rate of new-onset AF compared to AVB patients (p = 0.026) and SSS patients with Cum % VP <60% (p = 0.018). On multivariate Cox regression analysis, higher Cum % VP independently predicted higher morbidity of newly detected AF (hazard ratio [HR] 1.01; confidence interval [CI] 1.00 ~ 1.02; p = 0.035) among SSS patients. Larger left atrial (LA) dimension was a predictor of newly detected AF (HR 1.06; CI 1.01 ~ 1.14; p = 0.046) in AVB patients.

Conclusion

The incidence of AF following dual-chamber PPM implantation was relatively high in this Chinese cohort. High Cum % VP and larger LA dimension could independently predict new-onset AF after dual-chamber PPM implantation in SSS and AVB patients, respectively.
Literatur
6.
Zurück zum Zitat Ryo N, Shinichi N, Hidehira F et al (2019) Burden of implanted-device-detected atrial high-rate episode is associated with future heart failure events—clinical significance of asymptomatic atrial fibrillation in patients with Implantable cardiac electronic devices. Circ J 83(4):736–742. https://doi.org/10.1253/circj.CJ-18-1130CrossRef Ryo N, Shinichi N, Hidehira F et al (2019) Burden of implanted-device-detected atrial high-rate episode is associated with future heart failure events—clinical significance of asymptomatic atrial fibrillation in patients with Implantable cardiac electronic devices. Circ J 83(4):736–742. https://​doi.​org/​10.​1253/​circj.​CJ-18-1130CrossRef
9.
Zurück zum Zitat Boriani G, Glotzer TV, Santini M et al (2014) Device-detected atrial fibrillation and risk for stroke: an analysis of 〉10000 patients from the SOS AF project (Stroke preventiOn Strategies based on Atrial Fibrillation information from implanted devices). Eur Heart J 35:508–516. https://doi.org/10.1093/eurheartj/eht491CrossRefPubMed Boriani G, Glotzer TV, Santini M et al (2014) Device-detected atrial fibrillation and risk for stroke: an analysis of 〉10000 patients from the SOS AF project (Stroke preventiOn Strategies based on Atrial Fibrillation information from implanted devices). Eur Heart J 35:508–516. https://​doi.​org/​10.​1093/​eurheartj/​eht491CrossRefPubMed
Metadaten
Titel
The risk factors of new-onset atrial fibrillation after pacemaker implantation
verfasst von
Zhaodi Wu
Xueying Chen
Junbo Ge
Yangang Su
Publikationsdatum
27.02.2020
Verlag
Springer Medizin
Erschienen in
Herz / Ausgabe Sonderheft 1/2021
Print ISSN: 0340-9937
Elektronische ISSN: 1615-6692
DOI
https://doi.org/10.1007/s00059-019-04869-z

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